利用雙頻GPS數(shù)據(jù)研究區(qū)域電離層TEC變化規(guī)律

利用GPS雙頻觀測(cè)數(shù)據(jù)分析了儀器偏差對(duì)計(jì)算電離層TEC的影響,結(jié)果表明忽略儀器偏差的影響不能正確反映測(cè)站上空電離層總電子含量的變化規(guī)律.驗(yàn)證了短期內(nèi)儀器偏差的穩(wěn)定性,并在此基礎(chǔ)上研究了2005年太陽活動(dòng)低峰年區(qū)域電離層VTEC的周年變化規(guī)律,揭示了電離層VTEC半年變化、季節(jié)性變化及冬季異常等現(xiàn)象.

作 者： 孫正明 王堅(jiān) 高井祥 SUN Zheng-ming WANG Jian GAO Jing-xiang   作者單位： 中國(guó)礦業(yè)大學(xué),環(huán)境與測(cè)繪學(xué)院,江蘇,徐州,221008  刊 名： 測(cè)繪科學(xué)技術(shù)學(xué)報(bào)  PKU 英文刊名： JOURNAL OF GEOMATICS SCIENCE AND TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2008 25(3)  分類號(hào)： P228  關(guān)鍵詞： 儀器偏差   天頂方向總電子含量(VTEC)   周日變化   三角級(jí)數(shù)函數(shù)模型  

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