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利用RDSS系統(tǒng)測量數(shù)據(jù)提取電離層TEC參數(shù)的研究
提出了一種基于無線測定衛(wèi)星業(yè)務(wù)(RDSS)系統(tǒng)觀測數(shù)據(jù)提取電離層TEC參數(shù)的方法,利用此方法計(jì)算分析了2006年5月地面中心地區(qū)電離層垂向TEC的日變化趨勢.研究結(jié)果表明,利用RDSS系統(tǒng)觀測數(shù)據(jù)提取的電離層垂向TEC,在北京時(shí)間每日凌晨0400時(shí)左右達(dá)到最小值,在午后1400時(shí)左右達(dá)到最大值,符合電離層TEC參數(shù)受太陽活動(dòng)影響較大的物理規(guī)律.結(jié)果說明研究方法是可行且有效的,文章還對可能存在的誤差進(jìn)行了探討.
袁洪,范建軍,廖炳瑜,YUAN Hong,FAN Jianjun,LIAO Bingyu(中國科學(xué)院光電研究院,北京,100080)
刊 名： 空間科學(xué)學(xué)報(bào) ISTIC PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF SPACE SCIENCE 年，卷(期)： 2007 27(4) 分類號： P353 關(guān)鍵詞： 無線測定衛(wèi)星業(yè)務(wù) 偽距 電離層 電子濃度總含量(TEC)【利用RDSS系統(tǒng)測量數(shù)據(jù)提取電離層TEC參數(shù)的研究】相關(guān)文章：
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