X射線粉晶衍射法在螢石礦藥鑒定與質(zhì)量評價中的應用

利用X射線粉晶衍射儀對不同產(chǎn)地的螢石礦物藥進行全譜掃描.根據(jù)X射線粉晶衍射5強峰確定螢石礦物藥的主成分,并檢測出螢石礦物藥中的其他礦物成分.在礦物藥所有組分半定量分析的基礎上,對螢石礦物藥質(zhì)量進行評價.

作 者： 溫海成 遲廣成 康廷國 于艷 WEN Hai-cheng CHI Guang-cheng KANG Ting-guo YU Yan   作者單位： 溫海成,康廷國,于艷,WEN Hai-cheng,KANG Ting-guo,YU Yan(遼寧中醫(yī)藥大學,遼寧,沈陽,110032)

遲廣成,CHI Guang-cheng(沈陽地質(zhì)礦產(chǎn)研究所,遼寧,沈陽,110032) 

刊 名： 巖礦測試  ISTIC PKU 英文刊名： ROCK AND MINERAL ANALYSIS  年，卷(期)： 2007 26(6)  分類號： P575.5 P619.215  關鍵詞： X射線粉晶衍射法   礦物藥鑒定   螢石   半定量分析   質(zhì)量評價  

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