電離層突發(fā)E層與太陽活動的相關性

通過對1957-1990年3個太陽黑子周期期間不同緯度臺站的ES層的臨界頻率f0ES的觀測數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析,研究了太陽活動對ES層的強度與出現(xiàn)率的影響,主要結果為:f0ES的年平均值在白天與太陽活動呈強正相關,在夜間呈負相關. 同樣,ES的出現(xiàn)率的年變化與太陽活動的關系也是白天呈正相關,夜間呈負相關. 進一步分析表明,上述白天ES層臨界頻率與太陽活動的正相關性的主要貢獻來自于常規(guī)E層與太陽活動的強烈相關性. 消除了背景E層電子密度的作用后,ES層的強度在白天與太陽活動呈微弱的正相關,在夜間呈負相關,其相關系數(shù)有比較規(guī)則的周日變化或半日變化.

作 者： 左小敏 萬衛(wèi)星   作者單位： 中國科學院武漢物理與數(shù)學研究所,武漢,430071  刊 名： 地球物理學報  ISTIC SCI PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF GEOPHYSICS  年，卷(期)： 2002 45(6)  分類號： P352  關鍵詞： 太陽活動   突發(fā)E層   相關系數(shù)  

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