基于邊界掃描技術(shù)和Tcl語言的DualSRAM測試設(shè)計

集成電路(IC)的迅猛發(fā)展促進了測試技術(shù)的研究和發(fā)展,支持IEEE1149.1標準的邊界掃描芯片的廣泛應(yīng)用,使得邊界掃描測試技術(shù)日益被重視.Tcl語言是一種簡明、高效、移植性強的語言,它與邊界掃描技術(shù)的結(jié)合,擴展了芯片測試技術(shù)的應(yīng)用,使得IC的測試更加靈活.本文以DualSRAM的測試設(shè)計為例,介紹了以邊界掃描技術(shù)為基礎(chǔ)的Tcl語言的應(yīng)用,同時根據(jù)測試開發(fā)中遇到的問題,提出了一些可測性設(shè)計(DFT)的建議.

作 者： 王鳳馳 胡丙華 Wang Fengchi Hu Binghua   作者單位： 中國電子科技集團電子第三十八研究所,安徽合肥,230031  刊 名： 電子測試  英文刊名： ELECTRONIC TEST  年，卷(期)： 2009 ""(6)  分類號： PT312  關(guān)鍵詞： 邊界掃描   Tcl語言   DualSRAM測試   DFT  

【基于邊界掃描技術(shù)和Tcl語言的DualSRAM測試設(shè)計】相關(guān)文章：

基于柔性測試技術(shù)的系統(tǒng)設(shè)計04-27

基于CAN總線和虛擬儀器技術(shù)的汽車CAN節(jié)點測試儀設(shè)計04-27

基于LabWindows和PXI的飛機音頻管理組件測試系統(tǒng)的設(shè)計04-29

航空設(shè)備的測試性設(shè)計和驗證技術(shù)概述04-28

基于GPS的彈射試驗測試技術(shù)研究04-27

基于CAD技術(shù)的汽車設(shè)計實例04-27

基于PXI技術(shù)的先進航空自動測試系統(tǒng)04-30

基于車載激光掃描數(shù)據(jù)的目標分類方法04-29

基于SSA和AR模型的海面變化預(yù)測試驗04-29

JTAG測試中掃描鏈的配置問題研究04-28