JTAG測(cè)試中掃描鏈的配置問(wèn)題研究

分析了常見(jiàn)掃描鏈路配置中面臨的問(wèn)題,提出了一種掃描鏈配置方案.結(jié)合工程測(cè)試中出現(xiàn)的實(shí)際問(wèn)題,給出了有關(guān)掃描鏈路配置的一些建議和注意事項(xiàng).

作 者： 張磊 于曉輝 劉沖 ZHANG Lei YU Xiaohui LIU Chong   作者單位： 張磊,于曉輝,ZHANG Lei,YU Xiaohui(海軍駐洛陽(yáng)地區(qū)航空軍代表室,河南,洛陽(yáng),471009)

劉沖,LIU Chong(中航工業(yè)洛陽(yáng)電光設(shè)備研究所,河南,洛陽(yáng),471009) 

刊 名： 電光與控制  ISTIC PKU 英文刊名： ELECTRONICS OPTICS & CONTROL  年，卷(期)： 2010 17(6)  分類號(hào)： V271.4  關(guān)鍵詞： 集成電路   邊界掃描   掃描鏈   測(cè)試  

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