基于面陣CCD的光電測量設(shè)備光學(xué)系統(tǒng)像面照度不均勻度測量系統(tǒng)

一直以來光電測量設(shè)備光學(xué)系統(tǒng)像面照度不均勻度檢測都沒有精確的測量設(shè)備和檢測系統(tǒng).介紹了光電測量設(shè)備光學(xué)系統(tǒng)像面照度不均勻度測量系統(tǒng).該測量系統(tǒng)采用積分球作為均勻面光源,面陣CCD作為光電接受器.通過對CCD進行均勻性校正的方法實現(xiàn)了對光學(xué)系統(tǒng)像面照度不均勻度的定量評價,檢測結(jié)果準確、可靠.

作 者： 王力 賀庚賢 沈湘衡 WANG Li HE Geng-xian SHEN Xiang-heng   作者單位： 王力,WANG Li(中國科學(xué)院,長春光學(xué)精密機械與物理研究所,長春,130033;中國科學(xué)院,研究生院,北京,100039)

賀庚賢,沈湘衡,HE Geng-xian,SHEN Xiang-heng(中國科學(xué)院,長春光學(xué)精密機械與物理研究所,長春,130033) 

刊 名： 光電子技術(shù)  ISTIC PKU 英文刊名： OPTOELECTRONIC TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2008 28(3)  分類號： O432.2  關(guān)鍵詞： 像面照度不均勻度   光學(xué)鏡頭   CCD校正   積分球  

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