粗糙集在診斷規(guī)則提取中的應(yīng)用

為了克服專家在診斷規(guī)則提取時的主觀性,把粗糙集理論引入診斷規(guī)則提取之中.根據(jù)電子設(shè)備故障征兆及故障特點,提出一種基于粗糙集理論的診斷規(guī)則提取方法,并通過實際電路驗證了該方法的有效性.該方法為智能故障診斷中規(guī)則知識的自動獲取提供了一條道路.

作 者： 肖小鋒 時國紅 諶葉飛 XIAO Xiao-feng SHI Guo-hong CHEN Ye-fei   作者單位： 肖小鋒,時國紅,XIAO Xiao-feng,SHI Guo-hong(空軍裝備研究院,北京,100085)

諶葉飛,CHEN Ye-fei(軍械工程學(xué)院,石家莊,050003) 

刊 名： 電光與控制  ISTIC PKU 英文刊名： ELECTRONICS OPTICS & CONTROL  年，卷(期)： 2007 14(5)  分類號： V271.4 TP277  關(guān)鍵詞： 故障診斷   粗糙集   規(guī)則提取   電子設(shè)備  

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