電離層虛高的高精度測量與分析

為了提高電離層虛高測量精度,介紹了利用電離層回波相位實現(xiàn)高精度虛高測量的方法,并以CADI(Canadian Advanced Digital Ionosonde)電離層數(shù)字測高儀為研究平臺,進行組合脈沖控制和回波相位測量分析,開展了一系列虛高測量實驗,并與傳統(tǒng)的利用回波時間延遲的虛高測量方法進行了分析比較.實驗結果表明,基于回波相位的測量分析方法與回波時延測量分析方法相比,其虛高測量精度高一個量級以上,這對精確反演電離層峰下電子濃度剖面及研究電離層精細結構具有重要意義.

作 者： 朱正平 寧百齊 萬衛(wèi)星 ZHU Zhengping NING Baiqi WAN Weixing   作者單位： 朱正平,ZHU Zhengping(中國科學院地質與地球物理研究所,北京,100029;中國科學院武漢物理與數(shù)學研究所;中國科學院研究生院)

寧百齊,萬衛(wèi)星,NING Baiqi,WAN Weixing(中國科學院地質與地球物理研究所,北京,100029) 

刊 名： 空間科學學報  ISTIC PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF SPACE SCIENCE  年，卷(期)： 2007 27(3)  分類號： P353  關鍵詞： 電離層虛高   回波相位   回波時延  

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