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高密度電阻率法在基巖面探測(cè)中的應(yīng)用
以某大廈的勘察為例,介紹了高密度電阻率法在基巖面探測(cè)中的實(shí)際應(yīng)用.
作 者: 蔡光桃 武偉 作者單位: 蔡光桃(中國(guó)礦業(yè)大學(xué)科技產(chǎn)業(yè)集團(tuán)巖土公司,江蘇,徐州,221008)武偉(江蘇徐州銅山新區(qū)水景嘉苑項(xiàng)目部,江蘇,徐州,221116)
刊 名: 西部探礦工程 英文刊名: WEST-CHINA EXPLORATION ENGINEERING 年,卷(期): 2009 21(3) 分類(lèi)號(hào): P631.322 關(guān)鍵詞: 高密度電阻率法 基巖面 探測(cè)【高密度電阻率法在基巖面探測(cè)中的應(yīng)用】相關(guān)文章:
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