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用表面磁光克爾原理測量薄膜材料的磁性參數(shù)
以表面磁光克爾原理為機(jī)理,測量薄膜材料的磁性參數(shù),實(shí)驗(yàn)上求得了飽和狀態(tài)下坡莫合金的克爾偏轉(zhuǎn)角,并測出了其磁滯回線.
作 者： 祁建霞 QI Jian-xia 作者單位： 西安郵電學(xué)院,應(yīng)用數(shù)學(xué)與應(yīng)用物理系,陜西,西安,710121 刊 名： 大學(xué)物理 PKU 英文刊名： COLLEGE PHYSICS 年，卷(期)： 2009 28(9) 分類號(hào)： O441.6 關(guān)鍵詞： 表面磁光克爾效應(yīng) 磁滯回線 克爾旋轉(zhuǎn)角【用表面磁光克爾原理測量薄膜材料的磁性參數(shù)】相關(guān)文章：
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