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無失效數(shù)據(jù)可靠性進(jìn)展
在定時(shí)截尾可靠性試驗(yàn)中,有時(shí)會(huì)遇到無失效數(shù)據(jù),特別是在高可靠性、小樣本問題中更容易產(chǎn)生無失效數(shù)據(jù).本文綜述了無失效數(shù)據(jù)可靠性研究的的進(jìn)展情況,并指出了無失效數(shù)據(jù)研究中幾個(gè)需要解決的問題.
作 者： 韓明 作者單位： 中國人民大學(xué)統(tǒng)計(jì)系,北京,100872,中國,浙江海洋學(xué)院數(shù)學(xué)系,舟山,浙江,310004,中國 刊 名： 數(shù)學(xué)進(jìn)展 ISTIC PKU 英文刊名： ADVANCES IN MATHEMATICS 年，卷(期)： 2002 31(1) 分類號(hào)： O1 關(guān)鍵詞： 可靠性 無失效數(shù)據(jù) 參數(shù)估計(jì) 抽樣檢驗(yàn)【無失效數(shù)據(jù)可靠性進(jìn)展】相關(guān)文章：
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