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面粉中滑石粉的X射線檢驗(yàn)法
采用X-射線衍射分析法檢測(cè)面粉中滑石粉等有害物質(zhì),是利用礦物質(zhì)與面粉的分子結(jié)構(gòu)不同的特點(diǎn),利用X射線衍射法快速確定面粉中含有的礦物質(zhì)結(jié)構(gòu),直接檢測(cè)滑石粉等有害物質(zhì)結(jié)構(gòu).此方法具有快速、直接、準(zhǔn)確的特點(diǎn),有利于對(duì)大批量面粉中滑石粉等有害物質(zhì)的快速檢測(cè).
作 者: 由健 劉成雁 林雪征 作者單位: 遼寧省分析科學(xué)研究院,遼寧·沈陽(yáng),110015 刊 名: 科協(xié)論壇(下半月) 英文刊名: SCIENCE & TECHNOLOGY ASSOCIATION FORUM 年,卷(期): 2009 ""(1) 分類(lèi)號(hào): Q81 關(guān)鍵詞: X-射線衍射 面粉 滑石粉【面粉中滑石粉的X射線檢驗(yàn)法】相關(guān)文章:
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