數(shù)模/模數(shù)轉(zhuǎn)換器和大容量存儲器件γ射線輻射試驗研究

構建了一個測試平臺,在計算機和輔助測試模塊的配合下,對信號處理模塊經(jīng)常用到的數(shù)模/模數(shù)轉(zhuǎn)換器AD10465和AD9857以及大容量FLASH存儲器、反熔絲PROM存儲器進行了γ射線輻射試驗,并以功能的正常性為測試標準對這些器件的抗輻射效應性能進行了評估.結(jié)果發(fā)現(xiàn),AD10465和AD9857在總劑量為1.59kGy時仍然功能正常,FLASH存儲器和反熔絲存儲器分別在總劑量為0.13kGy和0.99kGy時出現(xiàn)錯誤.

作 者： 邢克飛 王躍科 潘華鋒 XING Kefei WANG Yueke PAN Huafeng   作者單位： 邢克飛,王躍科,XING Kefei,WANG Yueke(國防科技大學機電工程與自動化學院323室,長沙,410073)

潘華鋒,PAN Huafeng(上海航天電子有限公司,上海,201800) 

刊 名： 輻射研究與輻射工藝學報  ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF RADIATION RESEARCH AND RADIATION PROCESSING  年，卷(期)： 2006 24(4)  分類號： V4  關鍵詞： AD/DA轉(zhuǎn)換器   存儲器   60Coγ射線   總劑量   輻照效應  

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